Patente und Patentanmeldungen
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Suchaneck, G.; Levin, W.I.;
Tairov, J.M.; Tsvetkov V.F.: Verfahren zur Bestimmung der Temperaturverteilung
in Hochtemperaturöfen.- DD 217019 A1, Cl. G01 K 11/02
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Suchaneck, G.; Levin, W.I.;
Tairov, J.M.; Tsvetkov V.F.: Verfahren zur Züchtung von Siliciumkarbid-Einkristallen.-
DD 224886 A1, Cl. C30 B 15/00
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Suchaneck, G.; Levin, W.I.;
Tairov, J.M.; Tsvetkov V.F.: Verfahren zur Züchtung von Siliciumkarbid-Einkristallen.-
DD 227990 A1, Cl. C 30 B 15/00
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Suchaneck, G.; Levin, W.I.;
Tairov, J.M.; Tsvetkov V.F.: Verfahren zur Herstellung scheibenförmiger
Siliciumkarbid-Einkristalle.- DD 228839 A1, Cl. C 30 B 15/00
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Schade, K.; Menzel, S.; Fendler,
R.; Suchaneck, G.; Braune, A.: Vorrichtung zur plasmachemischen Bearbeitung
von Werkstücken.- DD 228396 A1, Cl. H01 L 21/302
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Schade, K.; Suchaneck, G.;
Mönch, J.-P.; Fuchs, M.; Möller, R.: Verfahren zur Ermittlung
von Restgasanteilen aus Plasmaprozessen.- DD 247076 A1, Cl. G 01 N 21/62
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Schade, K.; Braune, A.; Kottwitz,
A.; Suchaneck, G.; Schleusner, M.: Verfahren zur magnetfeldgestützten
Werkstückbearbeitung in Hochfrequenzplasmen.- DD 249048 A1, Cl. C
23 C 14/54
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Mönch, J.-P.; Suchaneck,
G.; Schade, K.; Möller, R.: Vorrichtung zur plasmachemischen Anregung
für die emissionsspektroskopische Kontrolle von Gasgemischen.- DD
254781 A1, Cl. G 01 N 21/00
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Fromm, B.; Möller, R.;
Albert, M.; Schade, K.; Suchaneck, G.: Verfahren und Anordnung zur Steuerung
der plasmagestützten Substratbearbeitung.- DD 263543 A1, Cl. C 23
C 14/54
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Fromm, B.; Hügl, M.;
Schade, K.; Suchaneck, G.; Albert, M.: Verfahren zur Bestimmung der Gaszusammensetzung
in HF-Niederdruckentladungen.- DD 275263 A1, Cl. C 23 C 14/54
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Albert, M.; Mönch, J.-P.;
Suchaneck, G.; Thiele, K.-H.; Schleusner, M.; Schade, K.Verfahren zur Herstellung
photoleitender Schichten.- DD 279329 A1, Cl. G 03 G 5/14
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Mönch, J.-P.; Schade,
K.; Kottwitz, A.; Suchaneck, G.; Schleusner, M.: Vorrichtung zur plasmagestützten
Abscheidung oder Abtragung dünner Schichten mit zylinderförmiger
Elektrodenanordnung.- DD 281425 C4, Cl. C 23 C 14/40
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Schade, K.; Kottwitz, A.;
Suchaneck, G.; Mönch, J.-P.; Dreihöfer, S.; Lutz, M.: Elektrofotografisches
Aufzeichnungsmaterial.- DE-Patentschrift 4212230 C2 vom 11.04.1996, zugleich
US-Patent Application 08/043,775
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Schade, K.; Suchaneck, G.;
Stahr, F.; Dreihöfer, S.; Lutz, M.: Elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial.-
DE-Patentanmeldung 4423948.3 vom 07.07.1994
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Schade, K.; Suchaneck, G.;
Dreihöfer, S.; Lutz, M.: Elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial.-
DE-Patentschrift 4429564 C1 vom 18.01.1996
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